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  • 重慶可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    重慶可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    重慶冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于測(cè)試其材料在瞬間下經(jīng)過*溫和極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度,藉以在zui短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無一不需要它的理想測(cè)試工具.

    更新時(shí)間:2024-11-21型號(hào):瀏覽量:4925
  • QS-710超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
    QS-710超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

    超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等)、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。

    更新時(shí)間:2024-11-22型號(hào):QS-710瀏覽量:4401
  • QSWQ氣流儀
    QSWQ氣流儀

    氣流儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等)、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。

    更新時(shí)間:2024-11-22型號(hào):QSWQ瀏覽量:5073
  • QS-710-WQ高速低溫氣流沖擊試驗(yàn)機(jī)
    QS-710-WQ高速低溫氣流沖擊試驗(yàn)機(jī)

    高速低溫氣流沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等)、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。

    更新時(shí)間:2024-11-22型號(hào):QS-710-WQ瀏覽量:1881
  • 冷熱沖擊試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)
    冷熱沖擊試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)

    冷熱沖擊試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)用來測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫和極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度,借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害,適用的對(duì)象包括金屬、塑膠、橡膠、電子…等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

    更新時(shí)間:2024-11-22型號(hào):瀏覽量:5197
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